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摘 要:薄膜应力普遍存在于薄膜元器件中,从而影响薄膜器件性能,限制了其良好的应用前景.所以控制薄膜的应力,消除其不良影响,是薄膜生产工艺中不可或缺的技术手段.本文对此详细阐述了几种常用的薄膜应力控制方法,并对以后研究工作的开展提出几点要求. : [& l, J9 X/ R/ Z% p# T* I9 P
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关键词:薄膜;应力;控制技术 8 J6 M5 O/ }+ z
9 H) V) U- L+ ]5 Y 分类号:O484.2 文献标识码:A
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& u# w; t ^8 e+ D" W 文章编号:1672-7126(2008)增刊-017-05 6 `% ]7 ?& P. v
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Stress Release and Control of Thin Films materials Used in Devices Fabrication # o3 Z4 A( Q e9 ]& c
$ R8 u; u# p6 b4 \2 M1 W Jiang Zhao Chen Xuekang 3 ?7 s& a3 t9 t/ l) k- V
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蒋钊,联系人:Tel:13893225634;E-mail:qqq-128@163.com
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作者单位:蒋钊(兰州物理研究所,表面工程技术国家级重点实验室,兰州,730000) 5 @8 }1 @! S7 a; X
) B6 s- l2 [* z9 v2 `& n 陈学康(兰州物理研究所,表面工程技术国家级重点实验室,兰州,730000)
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