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GaN/Al2O3上Ge薄膜的CVD外延生长

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发表于 2025-7-22 10:34:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
  摘 要:本工作采用化学气相淀积方法,以GcH4为反应气源,以InN/CaN/Al2O3(0001)复合衬底作陪片,在CaN/Al2O3(0001)复合衬底上外延生长了Ge薄膜,并对生长机理进行了探讨.研究结果表明:直接在N2气氛下外延得到了多晶Ge薄膜,表面较平整,由吸收光谱得出其带隙宽度为0.78 eV;经过H2预处理,CaN/Al2O3复合衬底表面出现金属In的沉积,外延Ge薄膜沿(111)方向择优生长,晶体质量较高. 5 f. x, o- G: @% e0 T0 S: |# @
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  关键词:化学气相淀积;Ge薄膜;GaN;金属In
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  分类号:TN304.055 文献标识码:A 8 y+ d4 N; N2 m8 ^* g

6 S- N" U% Z! F! f# j   文章编号:1672-7126(2008)增刊-009-04
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2 b* d- K% Q5 l- O# c   Chemical Vapor Deposition of Ge on GaN/Al2O3(0001) Substrates # c% [: u7 u9 l
2 s8 O9 a! z+ p/ G8 b
  Wang Ronghua  Han Ping  Cao Liang  Mei Qin  Wu Jun  Ge Ruiping  Xie Zili  Chen Peng  Lu Hai  Gu Shulin  Zhang Rong  Zheng Youliao
& C/ J' M  r. x3 @& B0 f
! p+ ^1 g! i0 f   基金项目:国家重点基础研究发展规划(No.2006CB604900);国家高技术研究发展规划(No.2006AA03A103,2006AA03A142);国家自然科学基金(No.60421003);高等学校博士学科点专项科研基金(No.20050284004)和单片集成电路与模块国家级重点实验室2006年度基金(No.9140C1404010605) 9 F9 h2 L5 A* n0 O, H

3 }8 q' V! F' X5 X) C( e   作者简介:韩平,联系人:E-mail:hanping@nju.edu.cn
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# t/ x( P% M# b9 q3 T& e) M+ a2 y   作者单位:王荣华(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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  韩平(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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  曹亮(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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  梅琴(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
0 `& Z) `! D3 o  I7 e$ t3 L2 V! h6 [+ W4 e2 ?1 f2 V8 m, d0 A
  吴军(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) , s, j: z1 g9 t! e- v0 V# B4 _
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  葛瑞萍(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) ! R& Z' B+ k: f% L* p* f
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  谢自力(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) * h5 A, a  n; T9 |  y+ _

2 |  v$ L% L% d7 g% \   陈鹏(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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; I4 b$ x( P& T9 T   陆海(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) & y. ?; C, O: Z1 ^9 r
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  顾书林(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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2 W/ l( x- e: p; X0 ?   张荣(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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  郑有��(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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参考文献:
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